【お問合せ】
太陽光パネルの絶縁抵抗試験において、太陽光発電のガイドラインでは「P-N間を短絡しないで測定する場合」、「P側端子を測定する。絶縁劣化がないことを確認したあと、N端子側を測定する」と記載されております。N-E間の測定を先にする場合、どの様な問題点がありますか？
【回答】
N-E間の絶縁抵抗測定では、太陽光モジュールが故障していた場合にバイパスルートダイオードが逆バイアスされ故障させてしまう恐れがあります。
P-E間の絶縁抵抗測定では、太陽光モジュールが故障していた場合でもバイパスルートダイオードに対しては順バイアスとなるため故障の恐れはありません。
そのため、先にP-E間で絶縁抵抗測定をし、問題ないことを確認したうえでN-E間の絶縁抵抗測定をしてください。
【修正】2023年3月
※お客様から計測に関するお問い合わせのあった内容で、他の皆様にも参考になる情報を公開しています。
※詳細につきましては取扱説明書、製品カタログ等を参照していただきますようお願い申し上げます。